ASTM F 637-1985 环形带载半导体器件用19mm和35mm宽可测带载体的格式、物理特性和试验方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-10 12:23:39
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【英文标准名称】:StandardSpecificationforFormat,PhysicalProperties,andTestMethodsfor19and35mmTestableTapeCarrierforPerimeterTapeCarrier-BondedSemiconductorDevices
【原文标准名称】:环形带载半导体器件用19mm和35mm宽可测带载体的格式、物理特性和试验方法
【标准号】:ASTMF637-1985
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1985
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;半导体器件;大梁;周长;尺寸;特性;试验;窄条带材
【英文主题词】:properties;electronicengineering;testing;tape;sizes;perimeter;semiconductordevices;girders
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_00
【页数】:10P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:环形带载半导体器件用19mm和35mm宽可测带载体的格式、物理特性和试验方法
【标准号】:ASTMF637-1985
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1985
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;半导体器件;大梁;周长;尺寸;特性;试验;窄条带材
【英文主题词】:properties;electronicengineering;testing;tape;sizes;perimeter;semiconductordevices;girders
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_00
【页数】:10P;A4
【正文语种】:英语
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