NF X21-073-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
作者:标准资料网
时间:2024-05-13 13:51:00
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【英文标准名称】:Surfacechemicalanalysis-RecordingandreportingdatainX-rayphotoelectronspectroscopy(XPS).
【原文标准名称】:表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
【标准号】:NFX21-073-2012
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2012-06-01
【实施或试行日期】:2012-06-23
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:化学分析和测试;化学性质;数据采集;数据记录;数据表示;定义(术语);电子光谱法;精整;最低信息;光电子学;性能;额定值;光谱学;表面;X射线;X射线分析;X射线分光计
【英文主题词】:Chemicalanalysisandtesting;Chemicalproperties;Dataacquisition;Datarecords;Datarepresentation;Definitions;Electronspectroscopy;Finishes;Minimuminformation;Photoelectronics;Properties;Ratings;Spectroscopy;Surfaces;X-ray;X-rayanalysis;X-rayspectrometer
【摘要】:
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_40
【页数】:16P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
【标准号】:NFX21-073-2012
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2012-06-01
【实施或试行日期】:2012-06-23
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:化学分析和测试;化学性质;数据采集;数据记录;数据表示;定义(术语);电子光谱法;精整;最低信息;光电子学;性能;额定值;光谱学;表面;X射线;X射线分析;X射线分光计
【英文主题词】:Chemicalanalysisandtesting;Chemicalproperties;Dataacquisition;Datarecords;Datarepresentation;Definitions;Electronspectroscopy;Finishes;Minimuminformation;Photoelectronics;Properties;Ratings;Spectroscopy;Surfaces;X-ray;X-rayanalysis;X-rayspectrometer
【摘要】:
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_40
【页数】:16P;A4
【正文语种】:其他
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